2015 年 12 月，飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業版 Phenom Pro 在四川省文物考古研究院驗收。 Phenom Pro 是飛納電鏡系列中一款使用高亮度 CeB6 燈絲的高分辨率臺式掃描電鏡。觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構，放大倍數要求在 130,000 倍以下，Phenom Pro 是理想的選擇。高分辨率專業版 Phenom Pro 的分辨率輕松達到 14 nm，同時具有全自動操作、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
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飛納電鏡的圖像拼合技術是吸引客戶的關鍵亮點，利用 Phenom Prosuite 自帶的圖像拼合軟件 AIM（Automated Image Mapping）可以實現某個特征位置的高清大圖拍攝。尤其是有明顯景深落差的位置，由于電鏡本身的局限性，不能在高清和大景深之間同時滿足，但是 AIM 可以通過細化宏觀特征物實現局部高清，通過對這些高清圖像的拼接，進而實現整體的高清展現，不僅對于較為平整的樣品，能夠獲取大視野高清圖，對于較大起伏的斷口、大尺寸樣品均可以獲取各個部位均清晰的高清大視野圖片。
用戶獲得培訓證書
四川省文物考古研究院的用戶順利通過了飛納電鏡的培訓，獲得了培訓合格證書。這些用戶中大部分都是來自北京大學的博士，他們對考古行業有巨大的熱情，希望這款高分辨率，操作快捷的臺式掃描電鏡幫助用戶在研究領域中取得突破。飛納電鏡一定能成為文物考古行業研究人員的好伙伴。
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